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| AFM纳米操纵中侧向推动力的测量方法 | |
| 引用本文： | 张宇军,李鹏,胡元中,王慧,黄兰.AFM纳米操纵中侧向推动力的测量方法[J].清华大学学报(自然科学版),2004,44(8):1025-1028. |
| 作者姓名： | 张宇军 李鹏 胡元中 王慧 黄兰 |
| 作者单位： | 1. 清华大学,精密仪器与机械学系,摩擦学国家重点实验室,北京,100084 2. 清华大学,物理系,北京,100084 3. 北京大学,化学与分子工程学院,北京,100871 |
| 基金项目： | 教育部博士点基金资助项目(2000000339);国家"九七三"重点基础研究项目(2003CB716201);国家自然科学基金资助项目(50390060;50173001) |
| 摘 要： | 纳米级操纵技术是制造纳米级结构、器件的重要方法之一,同时也是研究纳米粒子之间相互作用的重要手段.该文在运用原子力显微镜的探针操纵碳纳米管的同时,开发了一种纳米级操纵力的同步测量方法.应用该方法,成功测量出了操纵、切割碳纳米管的侧向力信息,从而为研究纳米粒子、基体与操纵工具之间的相互作用提供了最直接的力学信息和实验结果.在此基础上,可以进行初步的纳米设计,研究纳米新材料的力学特性. |
| 关 键 词： | 纳米操纵 碳纳米管 侧向力测量 原子力显微镜 |
| 文章编号： | 1000-0054(2004)08-1025-04 |
| 修稿时间： | 2003年9月3日 |
Atomic force microscopic measurement of lateral pushing forces during nanomanipulation |
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| Abstract: | |
| Keywords: | nanomanipulation carbon nanotubes lateral pushing forces measurements atomic force microscope |
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