基于性能退化数据的数控转台单子样可靠性分析 |
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引用本文: | 张云,于广,王立平,姜楠.基于性能退化数据的数控转台单子样可靠性分析[J].清华大学学报(自然科学版),2020,60(4):299-305. |
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作者姓名: | 张云 于广 王立平 姜楠 |
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作者单位: | 清华大学机械工程系,精密超精密制造装备及控制北京市重点实验室,北京100084;清华大学机械工程系,精密超精密制造装备及控制北京市重点实验室,北京100084;清华大学机械工程系,精密超精密制造装备及控制北京市重点实验室,北京100084;清华大学机械工程系,精密超精密制造装备及控制北京市重点实验室,北京100084 |
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摘 要: | 针对数控转台可靠性高、寿命长、失效样本数据少的情况,采用基于性能退化数据的可靠性评估方法进行研究。在试验过程中通过测量转台不同角度回转精度的性能退化量扩充试验数据,根据试验数据计算得出数控转台的伪失效寿命值。为了提高转台可靠性评估结果的准确率,采用虚拟增广原理扩展试验数据,再对扩展试验数据采用数学方法进行分析。结果表明:该方法可对数控转台的可靠性进行评估,得到数控转台的可靠度、失效分布密度函数和预期平均寿命等可靠性指标。该方法节省了试验成本与时间。
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关 键 词: | 数控转台 单子样 性能退化数据 虚拟增广 可靠性 |
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