Pt膜温度传感器批量测试、分选系统硬件设计 |
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引用本文: | 张任,丁喜波,唐才荣,江孝林.Pt膜温度传感器批量测试、分选系统硬件设计[J].佳木斯大学学报,2008,26(1):4-6. |
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作者姓名: | 张任 丁喜波 唐才荣 江孝林 |
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作者单位: | 哈尔滨理工大学测控技术与通信工程学院 黑龙江哈尔滨150080 |
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基金项目: | 黑龙江省科技攻关项目(GC06A127) |
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摘 要: | 介绍了一套以Pt膜温度传感器为研究对象,使用MSP430作为主控器件的温度传感器的测试、分选系统的硬件设计.该测试系统集温度传感器工作环境模拟、信号调理、数据采集和数据分析与管理于一体,具有多通道选择、定点测试和数据传输等功能.
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关 键 词: | Pt膜温度传感器 MSP430单片机 测试系统 |
文章编号: | 1008-1402(2008)01-0004-03 |
收稿时间: | 2007-12-07 |
修稿时间: | 2007年12月7日 |
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