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Pt膜温度传感器批量测试、分选系统硬件设计
引用本文:张任,丁喜波,唐才荣,江孝林.Pt膜温度传感器批量测试、分选系统硬件设计[J].佳木斯大学学报,2008,26(1):4-6.
作者姓名:张任  丁喜波  唐才荣  江孝林
作者单位:哈尔滨理工大学测控技术与通信工程学院 黑龙江哈尔滨150080
基金项目:黑龙江省科技攻关项目(GC06A127)
摘    要:介绍了一套以Pt膜温度传感器为研究对象,使用MSP430作为主控器件的温度传感器的测试、分选系统的硬件设计.该测试系统集温度传感器工作环境模拟、信号调理、数据采集和数据分析与管理于一体,具有多通道选择、定点测试和数据传输等功能.

关 键 词:Pt膜温度传感器  MSP430单片机  测试系统
文章编号:1008-1402(2008)01-0004-03
收稿时间:2007-12-07
修稿时间:2007年12月7日
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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