首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

基于FPGA的晶振膜厚控制系统设计
引用本文:朱文武.基于FPGA的晶振膜厚控制系统设计[J].佳木斯大学学报,2019(1).
作者姓名:朱文武
作者单位:安徽机电职业技术学院电气工程系
摘    要:通过以CYCLONE EP2C35 FPGA芯片为平台,有机地结合嵌入式软件设计和光学镀膜技术,运用石英晶体监控法,通过采集石英晶体监控的信号数据,采用测量膜厚算法和PID控制算法进行综合处理,在Nios Ⅱ IDE开发环境集成的C/OS-Ⅱ嵌入式操作系统下,设计薄膜厚度监测控制系统的镀膜监控菜单显示界面,实现基于FPGA的薄膜厚度监测控制系统。

本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号