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溅射功率对 ZnO ∶Mn 薄膜结构、应力和光电性能的影响
引用本文:臧永丽,刘景伦.溅射功率对 ZnO ∶Mn 薄膜结构、应力和光电性能的影响[J].菏泽学院学报,2015(2).
作者姓名:臧永丽  刘景伦
作者单位:1. 山东理工大学理学院,山东淄博,255049
2. 菏泽学院物理与电子工程系,山东菏泽,274015
摘    要:利用直流磁控溅射法,在玻璃衬底上制备掺锰氧化锌(ZnO ∶Mn)透明导电薄膜.研究了溅射功率对薄膜结构、力学性能和光电性能的影响.功率对薄膜应力影响不是很大,且应力均为负值,表现为压应力.溅射功率通过改变晶粒尺寸和结晶程度而影响薄膜的导电性能:当溅射功率为135 W 时,薄膜的电阻率具有最小值为1.10×10-2Ω·cm.实验表明,功率是影响 ZnO ∶Mn 薄膜性能的一个重要参量.

关 键 词:ZnO∶Mn  薄膜  透明导电薄膜  磁控溅射  溅射功率

Effect of the Sputtering Power on the Structure,Stress and the Photoelectric Property of ZnO ∶Mn Films
ZANG Yong-li,LIU Jing-lun.Effect of the Sputtering Power on the Structure,Stress and the Photoelectric Property of ZnO ∶Mn Films[J].Journal of Heze University,2015(2).
Authors:ZANG Yong-li  LIU Jing-lun
Abstract:
Keywords:ZnO ∶Mn films  transparent conductive films  magnetron sputtering  sputtering power
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