| 数字电路测试生成的二元判定图方法 |
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| 引用本文： | 陈翎,潘中良.数字电路测试生成的二元判定图方法[J].重庆工商大学学报(自然科学版),2005,22(3):268-272. |
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| 作者姓名： | 陈翎 潘中良 |
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| 作者单位： | 华南师范大学,物理与电信工程学院,广州,510631 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金(60006002)，广东省教育厅自然科学研究(02019)项目资助。 |
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| 摘 要： | 测试是保证电路系统可靠性的重要手段,已成为集成电路设计与生产的一个组成部分,研究了基于二元判定图的数字电路测试生成方法,对布尔函数的表示和操作的二元判定图进行研究,详细讨论了其中的ite算符;给出了基于二元判定图的电路测试生成方法的实现步骤,并用实例进行了说明。
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| 关 键 词： | 数字电路 测试生成 二元判定图 布尔函数 |
| 文章编号： | 1672-058X(2005)03-0268-05 |
Binary decision diagram method for test generation of digital circuits |
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| CHEN Ling,PAN Zhong-liang.Binary decision diagram method for test generation of digital circuits[J].Journal of Chongqing Technology and Business University:Natural Science Edition,2005,22(3):268-272. |
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| Authors: | CHEN Ling PAN Zhong-liang |
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| Abstract: | Circuit test is an important technique to improve the reliability of digital circuits. The binary decision diagrams method for test pattern generation of digital circuits is studied in this paper. First of all, the binary decision diagram for the presentation of Boolean functions is investigated, the realizations for the logic operations of two Boolean functions are discussed in detail. Secondly, the circuit test method using binary decision diagrams is given. The implementation procedure in the test method is shown by an example. |
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| Keywords: | digital circuits test generation binary decision diagrams Boolean functions |
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