| 三元混晶三层系统的表面和界面声子极化激元 |
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| 引用本文： | 包锦,闫翠玲,闫祖威.三元混晶三层系统的表面和界面声子极化激元[J].内蒙古大学学报(自然科学版),2014(6):578-584. |
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| 作者姓名： | 包锦 闫翠玲 闫祖威 |
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| 作者单位： | 内蒙古农业大学理学院; |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(No.11364028);内蒙古自然科学基金重大项目资助项目(No.2013ZD02);内蒙古自然科学基金资助项目(No.2014BS010T);内蒙古农业大学科技创新团队(培育)项目资助项目(NDPYTD2010-7) |
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| 摘 要： | 运用改进的无规元素等位移模型和玻恩-黄近似,结合电磁场的麦克斯韦方程和边界条件,研究了真空/极性三元混晶薄膜/极性二元半导体衬底三层系统的表面和界面声子极化激元,以AlxGa1-xAs/GaAs和ZnxCd1-xSe/ZnSe为例,获得了表面和界面声子极化激元模的色散关系以及表面和界面模的频率随混晶组分和薄膜厚度的变化关系.结果表明:与二元晶体三层系统以及三元混晶单层薄膜不同,在三元混晶三层异质结系统中存在五支表面和界面声子极化激元模,这五支表面和界面模的频率曲线位于二元晶体和三元混晶的体声子极化激元的禁带区间内,且其能量随混晶组分和薄膜厚度呈非线性变化,三元混晶的"单模"和"双模"性也在色散曲线中体现了出来.
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| 关 键 词： | 表面和界面声子极化激元 三元混晶 三层系统 |
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