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| 一种高可靠的半导体容错存储器的设计 | |
| 引用本文： | 王鼎,朱玉娟,陈禾.一种高可靠的半导体容错存储器的设计[J].系统工程与电子技术,1998(3). |
| 作者姓名： | 王鼎 朱玉娟 陈禾 |
| 作者单位： | 吉林工业大学，哈尔滨工业大学 |
| 摘 要： | 本文首先给出了容错存储器技术发展状况；然后给出了片上容双错的６４ＫＤＲＡＭ系统设计，此系统采用基于扩大的乘积码－ＡＰＣ来纠双错；最后对系统进行了可靠性评估，评估结果显示采用ＡＰＣ码后，系统可靠性有很大提高。 |
| 关 键 词： | 可靠性，半导体，容错技术，存储器 |
Design of One Kind of High Reliable Semiconductor Fault Tolerant Memory |
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| Wang Ding and Zhu Yujuan Jilin University of Technology,Changchun Cheng He Harbin University of Technology.Design of One Kind of High Reliable Semiconductor Fault Tolerant Memory[J].System Engineering and Electronics,1998(3). | |
| Authors: | Wang Ding and Zhu Yujuan Jilin University of Technology Changchun Cheng He Harbin University of Technology |
| Institution: | Wang Ding and Zhu Yujuan Jilin University of Technology,Changchun 130025 Cheng He Harbin University of Technology,150001 |
| Abstract: | |
| Keywords: | Fault tolerant Augmented product code(APC) Reliability |
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