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GaInP/GaAs/Ge三结叠层光电池光谱响应的温度特性
引用本文:刘磊,陈诺夫,汪宇,白一鸣,崔敏,高福宝.GaInP/GaAs/Ge三结叠层光电池光谱响应的温度特性[J].科学通报,2009,54(1):16-20.
作者姓名:刘磊  陈诺夫  汪宇  白一鸣  崔敏  高福宝
作者单位:① 河北大学电子信息工程学院, 保定 071002;
② 中国科学院半导体研究所, 半导体材料科学重点实验室, 北京 100083
摘    要:利用金属有机物化学气相沉积法(MOCVD)制备了转化效率达27.1%的GaInP/GaAs/Ge三结叠层电池, 并对其光谱响应的温度特性进行了测量研究. 通过光谱响应曲线观察到各子电池的吸收边随温度升高发生红移, 这主要归因于电池材料禁带宽度的变窄效应. 根据光谱响应数据计算得到的GaInP/GaAs/Ge叠层电池各子电池在室温下的短路电流密度分别为12.9, 13.7和17 mA/cm2, 且叠层电池的短路电流密度的温度系数为8.9 μA/(cm2·℃). 最后, 根据叠层电池的串联结构推导了其电压温度系数为-6.27 mV/℃.

关 键 词:光谱响应  叠层电池  温度系数
收稿时间:2008-07-09
修稿时间:2008-10-05
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