| 两块晶体的硬X射线衍射增强成像 |
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| 引用本文： | 黎刚,王楠,吴自玉.两块晶体的硬X射线衍射增强成像[J].科学通报,2004,49(19):1930-1936. |
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| 作者姓名： | 黎刚 王楠 吴自玉 |
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| 作者单位： | 1. 中国科学院高能物理研究所同步辐射实验室,北京,100039
2. 北京工业大学机电学院,北京,100022 |
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| 基金项目： | 本工作为国家自然科学基金(批准号:60172042和69902008)资助项目. |
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| 摘 要： | 硬X射线衍射增强成像(DEI)方法利用一块或一对放在样品和探测器之间的完美晶体(分析晶体), 把X射线(经过多块晶体单色化, 具有较高单色性和准直性)穿过样品时产生的透射光、折射光和散射光彼此分开来成像, 是一种和X射线相位变化梯度有关的成像方法, 能够大大提高弱吸收体硬X射线成像的衬度和空间分辨率. DEI成像的光路通常较为复杂, 入射光要经过多块晶体的衍射, 调节不便, 不利于实用化. 为了探索简化DEI方法的可行性, 在北京同步辐射装置(BSRF)仅用两块Si(111)单晶体(一块作同步辐射白光的单色器, 另一块作为Bragg模式的分析晶体)作了一系列DEI成像实验, 在摇摆曲线的十多个位置获得了衬度和分辨率均比吸收像明显提高的硬X射线衍射增强像, 并解释了分析晶体位于摇摆曲线不同位置时所得图像在明暗对比和成像衬度等方面的差别. 这是目前使用晶体最少的Bragg模式的DEI成像.
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| 关 键 词： | 硬X射线衍射增强成像 相位衬度成像 摇摆曲线 同步辐射 |
| 收稿时间： | 2003-11-17 |
| 修稿时间： | 2004-08-31 |
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