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| LiCr_(0.35)Mn_(0.65)O_2高压阻抗谱研究 | |
| 摘 要： | 利用金刚石对顶砧装置研究了Li Cr0.35Mn0.65O2高压阻抗谱.随压力的增加,晶粒电阻先增加后减小,晶界电阻逐渐减小.在低压下,晶界电阻大于晶粒电阻,而压力高于21.52 GPa后,晶粒电阻较大,说明压力使影响样品电输运特性的主导区域由晶界变为晶粒.压力使晶界缺陷的种类和数量发生改变,导致样品卸压电阻远低于加压电阻,表明压力处理是提高Li Cr0.35Mn0.65O2电化学性能的有效手段. |
Impedance Spectroscopy Measurement of LiCr0. 35 Mn0. 65 O2 |
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