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一种内压式边柱结构叶片锁的技术开启痕迹研究
作者姓名:兰薪康  叶方坚  潘杰财  郭威
摘    要:目的 研究一种内压式边柱结构叶片锁的技术开启形成的痕迹特征.方法 使用插片类工具技术开启此类锁芯,拆解锁具,观察锁具零部件上的痕迹反映,分析痕迹形成过程,总结留痕特征.结果 技术开启后的锁芯叶片内壁凸起位置周围留下明显痕迹,其中凸起顶端与侧面位置与正常使用痕迹区别明显,在边柱顶端上边缘形成“点、条坑状”凹陷印痕.结论 ...

关 键 词:技术开启  叶片锁芯  开破锁痕迹检验
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