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深山含笑和乐昌含笑的抗寒性测定
引用本文:田如男,薛建辉,李晓储,潘良.深山含笑和乐昌含笑的抗寒性测定[J].南京林业大学学报(自然科学版),2004,28(6):55-57.
作者姓名:田如男  薛建辉  李晓储  潘良
作者单位:1. 南京林业大学,江苏,南京,210037
2. 江苏省林业科学研究院,江苏,南京,211153
基金项目:南京市园林局科技项目,江苏省"十五"农业科技攻关课题(BE2001352)
摘    要:以3年生和6年生深山含笑和乐昌含笑为试材,通过低温处理,用电导法测定含笑叶片相对电导率.并用Logistic方程拟合求拐点值来估计其半致死温度,探讨其抗寒性。结果表明,经过冬季低温锻炼,除3年生乐昌含笑的半致死温度略高于-10℃外,其余均低于-11℃。深山含笑的抗寒性大于乐昌含笑,且随着树龄的增大、生长地气温的下降,抗寒性增加。在南京地区引种这两个树种成功的可能性较大。

关 键 词:深山含笑  乐昌含笑  电导法  半致死温度  抗寒性
文章编号:1000-2006(2004)06-0055-03
修稿时间:2004年2月26日

A Study on Cold Resistance of Michelia maudiae and M.chapaensis by Electric Conductivity Method
TIAN Ru-nan,XUE Jian-hui,LI Xiao-chu,PAN Liang.A Study on Cold Resistance of Michelia maudiae and M.chapaensis by Electric Conductivity Method[J].Journal of Nanjing Forestry University(Natural Sciences ),2004,28(6):55-57.
Authors:TIAN Ru-nan  XUE Jian-hui  LI Xiao-chu  PAN Liang
Institution:TIAN Ru-nan~1,XUE Jian-hui~1,LI Xiao-chu~2,PAN Liang~1
Abstract:
Keywords:Michelia maudiae  M  chapaensis  Electric conductivity method  Semilethal temperature  Cold resistance
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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