取向高聚物的抗张强度对其形态结构和起始分子量分布依赖性的研究——一种从实验上来测定理论强度的新方法

采用以自增强高聚物(超高分子量聚乙烯和液晶)的非晶区中伸直应力集中链系数作为自变量,建立了等速形变下微区伸直应力集中链(Taut Tie Molecule和/或Trapped Entarglement Chain)的断链动力学方程,经积分和化简后,得到了自增强高聚物的抗张强度同其形态结构、起始分子量和其分布、成型工艺和断裂时间等最一般化定量关系式。当引入起始分子量和成型过程中牵伸化趋近于很大后,再同光子强度理论结果相结合,最后得到超高取向高聚物的抗张强度同理论强度、微区中伸直应力集中链(TTM和/或TEC)的重量分数和热涨落等间的定量关系式。基于该式建议一种从等形变实验来测定取向高聚物理论强度新方法,用该法测定了聚乙烯和尼龙6的理论强度,并讨论了液晶的抗张强度同起始分子量分布的依赖性。