电子组装用BGA器件的无铅返修过程中的焊接温度曲线分析 |
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引用本文: | 杨洁.电子组装用BGA器件的无铅返修过程中的焊接温度曲线分析[J].中国新技术新产品精选,2011(20):165-165. |
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作者姓名: | 杨洁 |
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作者单位: | 南京信息职业技术学院机电学院; |
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摘 要: | 在电子产品尤其是电脑和通信类电子产品中,各式封装技术不断涌现,BGA是当今封装技术的主流。随着无铅焊接工艺的应用,相关的焊接工艺和返修工艺受到了越来越多的挑战,其中焊接温度曲线的设置是保证返修质量的关键。本文结合BGA的无铅返修工艺流程,对如何正确设定无铅返修温度曲线进行了重点分析,以期对BGA器件的无铅返修工艺的优化提供一定的指导意义。
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关 键 词: | BGA 无铅 返修工艺 温度曲线 |
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