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| 数字电路测试的故障诊断和测试码生成 | |
| 引用本文： | 沈茜.数字电路测试的故障诊断和测试码生成[J].科技资讯,2007(34):39-40. |
| 作者姓名： | 沈茜 |
| 作者单位： | 青海大学水电系,青海西宁,810016 |
| 摘 要： | 随着数字电路的广泛应用,电路的测试与故障诊断已成为设计与生产过程中重要的组成部分.本文讨论了电路的测试方法、故障模型和利用通路敏化法导出测试码等问题,需要在数字电路安装之前对元件进行逻辑功能测试,从而避免因器件功能不正常而增加测试的困难. |
| 关 键 词： | 数字电路测试 故障诊断 测试码 故障模型 通路敏化法 |
| 文章编号： | 1672-3791(2007)12(a)-0039-02 |
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