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| 掺锡In_2O_3薄膜的晶粒生长及其微观结构性质研究 | |
| 作者单位： | ;1.中南民族大学电子信息工程学院;2.中南民族大学智能无线通信湖北省重点实验室 |
| 摘 要： | 以氧化锡(SnO_2)掺杂的氧化铟(In_2O_3)陶瓷靶作为溅射源材料,利用射频磁控溅射工艺在普通玻璃基底上沉积了掺锡In_2O_3(In_2O_3:Sn)薄膜样品,通过XPS、XRD和SEM等表征手段,研究了基底温度对薄膜晶粒生长和微观结构的影响.结果表明,所有In_2O_3:Sn样品均为多晶薄膜并具有体心立方铁锰矿晶体结构,基底温度对晶粒生长特性和微观结构性能具有明显的影响.基底温度升高时,薄膜沿(222)晶面的织构系数和平均晶粒尺寸先增大后减小,而位错密度和晶格应变则呈现相反的变化趋势.当基底温度为250℃时,In_2O_3:Sn样品沿(222)晶面的织构系数最高、平均晶粒尺寸最大、位错密度最小、晶格应变最低,薄膜具有最佳的(222)晶面择优取向生长特性和微观结构性能. |
| 关 键 词： | 掺锡In_2O_3 薄膜 微观结构性质 |
Grain growth and microstructural properties of tin doped In_2O_3 thin films |
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