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ZnO薄膜的分形生长以及退火对ZnO薄膜结构和性质的影响
引用本文:闫益,诸葛兰剑,吴雪梅. ZnO薄膜的分形生长以及退火对ZnO薄膜结构和性质的影响[J]. 苏州大学学报(医学版), 2007, 23(4): 62-66
作者姓名:闫益  诸葛兰剑  吴雪梅
作者单位:苏州大学物理科学与技术学院,江苏省薄膜材料重点实验室,江苏苏州215006
摘    要:通过射频磁控溅射的方法,分别在NaCl和Si基片上制备厚度约为10nm的ZnO薄膜,通过SEM、TEM等测试手段分析了薄膜的表面状况,结果显示,在两种基片上沉积的薄膜都呈现分形生长的形貌.通过对两种基片上生长的薄膜进行比较,分别计算了这两种薄膜的分形维数.在Al2O3上制备了厚度约为300nm的ZnO薄膜,通过在不同温度下对样品进行退火处理,并利用XRD、PL测试手段研究了退火处理对薄膜结构和光致发光性质的影响.结果表明,随着退火温度升高,薄膜的晶体结构逐渐变好,发光峰位也随着退火温度发生偏移.

关 键 词:ZnO薄膜  分形  分形维数  "  数金子"  计算法
文章编号:1000-2073(2007)04-0062-05
收稿时间:2006-07-26
修稿时间:2006-07-26

Fractal growth of ZnO film and the effect of the annealing process on the structure and the PL properties
Yan Yi,Zhuge Lanjian,Wu Xuemei. Fractal growth of ZnO film and the effect of the annealing process on the structure and the PL properties[J]. Journal of Suzhou University(Natural Science), 2007, 23(4): 62-66
Authors:Yan Yi  Zhuge Lanjian  Wu Xuemei
Abstract:
Keywords:PL
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