一种自动测试晶体管开关参数的微机系统

给出一种对晶体管开关参数（二极管反向恢复时间trr，晶体三极管开启时间ton和关闭时间toff以及延迟时间td，上升时间tr，存储时间ts和下降时间tf）进行自动测试的系统TSP－ATS。论文以存储电荷Qs作为PN结开关特性及晶体三极管的开关参数为实测对象，论述了自动测试系统的工作原理；给出了系统测试方案和TSP－ATS的硬件设计方框图及测试软伯的主流程图；对接口功能设计的状态图作了较详细的介绍并给出了最终的测试结果。