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锌镀层铬酸钝化膜的俄歇电子能谱研究
引用本文:周牧易,陈秉彝,周绍民.锌镀层铬酸钝化膜的俄歇电子能谱研究[J].厦门大学学报(自然科学版),1983(2).
作者姓名:周牧易  陈秉彝  周绍民
作者单位:厦门大学化学系 (周牧易,陈秉彝),厦门大学化学系(周绍民)
摘    要:本文用俄歇电子能谱法研究锌镀层铬酸钝化膜的组成随深度的变化。结果表明:钝化膜层和中间层的厚度分别约为0.2微米和0.14微米;钝化层的组成基本上是均匀的,主要含有Cr和O元素;绿色钝化膜表面的S,P,N,Cl等杂质只存在于膜层的外表面。

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