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| 中国集成电路制造供应链脆弱性研究 | |
| 作者姓名： | 张云涛 陈家宽 温浩宇 |
| 作者单位： | 西安电子科技大学经济与管理学院,西安710071 |
| 摘 要： | 集成电路产业是衡量国家科技实力与经济水平的重要标志之一.本文通过分析我国集成电路供应链所处的内外环境,针对其脆弱性,研究相关重要影响因子,提出一种系统评价新思路,对我国集成电路供应链脆弱性进行量化分析.以暴露性、敏感性、恢复性作为集成电路供应链脆弱性的三个主要测度,建立指标评价体系,通过改进的灰色关联法,将关联度作为指... |
| 关 键 词： | 集成电路 供应链脆弱性 关键设备 电子设计自动化 灰色关联法 |
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