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| 线列CCD摄象器件暗电流的测试和研究 | |
| 引用本文： | 何兆湘 ,潘正达.线列CCD摄象器件暗电流的测试和研究[J].华中科技大学学报(自然科学版),1982(4). |
| 作者姓名： | 何兆湘 潘正达 |
| 摘 要： | 本文分析了电压(V_P-V_B)对线列CCD摄象器件暗电流及其不均匀性的影响,从而提出了在满足势阱容量的前提下尽量减小(V_P-V_B)以抑制暗电流引入的固定图形噪声的方法.另外,本文还分析了暗电流对信号调制度的影响,并指出了用“对消”的方法是不能完全消除暗电流固定图形噪声的.最后,提出了通过测量暗电流输出来测量少数载流子寿命的方法,并给出了实验和计算的结果. |
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