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| 基于霍尔元件阵列的缺陷漏磁检测技术研究 | |
| 作者姓名： | 张卫民 杨旭 王珏 高乾鹏 |
| 作者单位： | 北京理工大学机械与车辆学院,北京,100081 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(50875023) |
| 摘 要： | 利用高灵敏度霍尔器件,设计研制了多通道阵列式漏磁检测传感器及信号处理电路.对不同几何参数的铁磁性试件缺陷进行了检测实验研究,该漏磁检测系统可实现地磁场激励和人工弱磁激励下的缺陷信号图像显示.探讨了基于多通道漏磁信号的缺陷表示方法,并利用人工神经网络技术对基于多通道传感器漏磁信号的缺陷反演问题进行了初步研究,表明利用霍尔元件阵列检测装置和人工智能信息处理方法,可以实现多通道漏磁信号与缺陷参数的非线性拟合,进而实现漏磁检测中的缺陷定量化分析. |
| 关 键 词： | 霍尔元件 漏磁检测 地磁场激励 |
| 收稿时间： | 2009-09-22 |
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