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工业X—CT新型探测器技术
引用本文:魏彪 潘银松 等. 工业X—CT新型探测器技术[J]. 重庆大学学报(自然科学版), 2001, 24(1): 1-3,31
作者姓名:魏彪 潘银松 等
作者单位:[1]重庆大学光电工程学院,重庆400044 [2]重庆大学机械工程学院,重庆400044
基金项目:中国博士后科学基金中博基!( 19980 0 6),重庆市科委青年基金,光电技术及系统国家教育部重点实验室基金联合资助项目。
摘    要:探测器及其技术是工业X-CT系统中的关键技术之一。文中提出了基于光纤面板光耦合及传输,采用闪烁晶体和自扫描光电二极管列阵器件的X射线新型探测器技术方案,并对此方案进行了实验研究。结果表明,该新型探测器技术方案具有结构紧凑、性能可靠且分辨率高等特点,可以实际应用于工业X-CT系统中。

关 键 词:工业X-CT CsI(TI)闪烁晶体 光纤面板 自扫描光电二极管列阵器件 探测器
文章编号:1000-582x(2001)01-0001-03

Experimental Study of a Novel Detector's Technique for Industrial X-ray Computed Tomography(CT)
WEI Biao,PAN Yin shong,XIAN Wu. Experimental Study of a Novel Detector's Technique for Industrial X-ray Computed Tomography(CT)[J]. Journal of Chongqing University(Natural Science Edition), 2001, 24(1): 1-3,31
Authors:WEI Biao  PAN Yin shong  XIAN Wu
Affiliation:WEI Biao 1,PAN Yin shong 2,XIAN Wu 1
Abstract:Detector, influencing on system's performances, is one of some key techniques in x ray industrial computed tomography (CT) systems. Considering the existing problems for sensor (or detector) in CT systems, a new sensor is experimented by using optoelectronic integrated technique with optic fiber face plate optically coupling and transmission, and it is proved to be high integrated, high efficiency, high resolution, and low cost in industrial CT systems.
Keywords:industrial x-ray computed tomography  C sI(Tl) scintillator  optic fiber face plate  self scanning photodiode arrays
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