| 利用原子力显微镜研究晶体缺陷 |
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| 引用本文： | 胡秀琴,牟其善,程传福. 利用原子力显微镜研究晶体缺陷[J]. 山东科学, 2003, 16(2): 35-39 |
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| 作者姓名： | 胡秀琴 牟其善 程传福 |
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| 作者单位： | 山东教育学院,山东,济南,250013;山东师范大学,山东,济南,250014 |
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| 基金项目： | 山东省自然科学基金(编号Y98A15018),山东大学晶体材料国家实验室资助项目 |
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| 摘 要： | 首次利用原子力显微镜研究晶体表面缺陷,给出了经腐蚀后的KTiOAsO4晶体表面铁电畴和位错蚀坑的清晰照片和定量信息。对实验结果和方法进行了讨论。指出这种实验方法具有放大倍数高,分辨率可达原子量级,可以给出物质表面结构的定量信息和立体图像等特点,并且具体探讨了利用原子力显微镜研究晶体表面缺陷的一些实验技术问题。
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| 关 键 词： | 原子力显微镜 晶体缺陷 铁电畴 位错 |
| 文章编号： | 1002-4026(2003)02-0035-05 |
| 修稿时间： | 2003-03-06 |
Researching crystal defects with atomic force microscope |
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| HU Xiu-qin,MOU Qi-shan,CHENG Chuan-fu. Researching crystal defects with atomic force microscope[J]. Shandong Science, 2003, 16(2): 35-39 |
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| Authors: | HU Xiu-qin MOU Qi-shan CHENG Chuan-fu |
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| Abstract: | The crystal defects have been researched firstly with atomic force microscope, which gives clear pictures and quantitative information of ferroelectrics domain and etch pits of dislocation on etched KTiOAsO_4 crystal surface. The work has been discussed systematically in this paper. It shows that the method has many advantages, for example, having good magnifying power and resolving power,and offering the quantitative information and stereoscopic pictures of sample surface. Some experimental techniques are also discussed in details. |
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| Keywords: | atomic force microscope crystal defect ferroelectrics domain dislocation |
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