| 过采样和非线性校正在中子发生器控制台上的应用 |
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| 引用本文： | 郭纪佑,范琦,乔双.过采样和非线性校正在中子发生器控制台上的应用[J].东北师大学报(自然科学版),2021,53(2):127-133. |
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| 作者姓名： | 郭纪佑 范琦 乔双 |
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| 作者单位： | 东北师范大学物理学院,吉林长春130024 |
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| 摘 要： | 在以往的中子发生器控制台中,由于AD采样精度低、驱动电路电子器件产生温漂、时漂,导致整体采样电路非线性误差大.针对上述问题,提出了使用过采样技术提高AD采集分辨率,同时利用最小二乘法线性回归对采样结果进行非线性校正.使用ARM-Cortex-M4为内核的S T M 32 F407作为主控芯片,使用过采样技术并结合电路特性进行非线性校正,将A D采集分辨率由12位提高到16位,采样数据采用最小二乘法拟合后,结果非线性误差为0.2％,符合中子发生器控制台精度要求.
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| 关 键 词： | 中子发生器 A RM 过采样 最小二乘法 |
Application of oversampling and nonlinear error correction in neutron generator console |
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| GUO Ji-you,FAN Qi,QIAO Shuang.Application of oversampling and nonlinear error correction in neutron generator console[J].Journal of Northeast Normal University (Natural Science Edition),2021,53(2):127-133. |
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| Authors: | GUO Ji-you FAN Qi QIAO Shuang |
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