高性能InP/InP,InGaAs/InP体材料LP—MOCVD生长 |
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引用本文: | 刘宝林,王本忠.高性能InP/InP,InGaAs/InP体材料LP—MOCVD生长[J].厦门大学学报(自然科学版),1997,36(4):540-544. |
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作者姓名: | 刘宝林 王本忠 |
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作者单位: | 厦门大学物理学系,集成光电子国家重点实验室,吉林大学 |
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基金项目: | 国家自然科学基金,福建省自然科学基金 |
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摘 要: | 给出利用低压金属有机化合物化学汽相沉积(LP-MOCVD)生长技术在InP衬底上生长InP、InGaAs的条件,研究了InP/InP的生长特性、InGaAs/InP的组份控制、生长特性及生长温度对InGaAs特性的影响.发现InGaAs/InP最佳生长温度为640℃,得到InGaAs/InP16K光荧光(PL)谱全高半峰宽为32.0nm,InP/InP室温霍尔迁移率为4360cm2/Vs,背景掺杂浓度为5×1014cm-3,X光双晶衍射全高半峰宽为21".
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关 键 词: | MOCVD,InGaAs,InP |
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