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| 基于March C+算法的RAM内建自测试设计 | |
| 引用本文： | 刘兴辉,孙守英,程宇.基于March C+算法的RAM内建自测试设计[J].辽宁大学学报(自然科学版),2018(2). |
| 作者姓名： | 刘兴辉 孙守英 程宇 |
| 作者单位： | 辽宁大学物理学院;北京宏思电子科技有限公司 |
| 摘 要： | 为解决HSC32K1芯片传统测试的不足,基于March C+算法的内建自测试(Built In Self Test,BIST)方法,并利用perl语言调用Mbist Architect工具自动产生March C+算法,生成时间只需要3.5 s,相比手动编写算法代码几十分钟甚至几小时来说缩短了测试时间,提高了测试效率。仿真结果表明,提出的测试方法,可以有效地达到测试效果。该方法可以推广到对其他芯片进行测试,适用性强. |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |