| 基于赋值判决图的AT89C51微处理器全速电流测试实验研究 |
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| 引用本文： | 荀庆来,邝继顺.基于赋值判决图的AT89C51微处理器全速电流测试实验研究[J].科学技术与工程,2006,6(13):1808-1815. |
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| 作者姓名： | 荀庆来 邝继顺 |
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| 作者单位： | 湖南大学计算机与通信学院,长沙,410082 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金（60173042）和湖南大学科学基金资助 |
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| 摘 要： | 全速电流测试是一种新的电路测试方法,以AT89C51微处理器为例,说明用全速电流测试进行微处理器测试的可能性.实验中将80C51内核的HDL描述转换为赋值判决图（ADD）,然后由ADD产生测试所需的指令序列,最后令微处理器重复执行产生的指令序列,并用普通的万用数字电流表测量微处理器消耗的平均电流.实验结果表明,用全速电流测试在指令级对AT89C51微处理器进行测试是可行的.通过测试所有的数据通路,不仅可以检测数据通路的故障,而且可以检测由于控制错误而引起的数据传送错误.
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| 关 键 词： | 全速电流测试 微处理器测试 赋值判决图 指令序列 |
| 文章编号： | 1671-1815（2006）13-1808-07 |
| 收稿时间： | 2006-03-03 |
| 修稿时间： | 2006年3月3日 |
Experimental Research on At-speed Current Test for AT89C51 Microprocessor Based on Assignment Decision Diagram |
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| XUN Qinglai,KUANG Jishun.Experimental Research on At-speed Current Test for AT89C51 Microprocessor Based on Assignment Decision Diagram[J].Science Technology and Engineering,2006,6(13):1808-1815. |
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| Authors: | XUN Qinglai KUANG Jishun |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | at-speed current testing microprocessor testing ADD instruction sequence |
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