|
|||||
|
|
| 程控扫描器及其在LSI自动检测系统中的运用 | |
| 引用本文： | 李竹英,唐良晶,黄慕义.程控扫描器及其在LSI自动检测系统中的运用[J].华中科技大学学报(自然科学版),1987(6). |
| 作者姓名： | 李竹英 唐良晶 黄慕义 |
| 作者单位： | 华中工学院电力工程系 (李竹英，唐良晶)，华中工学院电力工程系(黄慕义) |
| 摘 要： | 一、自动测试系统概述 自动测试系统要能程控测试LSI芯片参数,就必须组建由计算机或微型计算机作控制器,并包括程控扫描器SC,数字万用表DMM等的智能测试系统。图1表示某实用的自动测试系统框图。 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |