基于ARM的线阵CCD测距系统设计 |
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作者姓名: | 黄战华叶伟强 蔡怀宇张尹馨 |
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作者单位: | 天津大学精密仪器与光电子工程学院,天津,300072;天津大学精密仪器与光电子工程学院,天津,300072;天津大学精密仪器与光电子工程学院,天津,300072;天津大学精密仪器与光电子工程学院,天津,300072 |
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摘 要: | CCD(电荷耦合器件)是一种高性能的半导体光电器件,近年来在摄像、工业检测等科技领域里得到了广泛的应用。将CCD测量系统应用于几何量测量中,可以满足高精度测量、在线动态检测和非接触测量等工程实际要求。主要研究内容是采用双目视差原理来测距,重点在于线阵CCD数据采集及处理系统的软硬件设计。首先在详细分析了线阵CCD的工作原理的基础上采用CPLD(复杂可编程逻辑器件)设计了线阵CCD积分时间和主频同时可调的驱动时序脉冲电路;最后设计了ARM7TDMI微控制器LPC2214为中心的信号处理系统硬件电路。
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关 键 词: | ARM CCD 双目视差原理 积分时间 |
文章编号: | 1671-1819(2007)20-5255-05 |
修稿时间: | 2007-06-21 |
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