首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

基于ARM的线阵CCD测距系统设计
作者姓名:黄战华叶伟强  蔡怀宇张尹馨
作者单位:天津大学精密仪器与光电子工程学院,天津,300072;天津大学精密仪器与光电子工程学院,天津,300072;天津大学精密仪器与光电子工程学院,天津,300072;天津大学精密仪器与光电子工程学院,天津,300072
摘    要:CCD(电荷耦合器件)是一种高性能的半导体光电器件,近年来在摄像、工业检测等科技领域里得到了广泛的应用。将CCD测量系统应用于几何量测量中,可以满足高精度测量、在线动态检测和非接触测量等工程实际要求。主要研究内容是采用双目视差原理来测距,重点在于线阵CCD数据采集及处理系统的软硬件设计。首先在详细分析了线阵CCD的工作原理的基础上采用CPLD(复杂可编程逻辑器件)设计了线阵CCD积分时间和主频同时可调的驱动时序脉冲电路;最后设计了ARM7TDMI微控制器LPC2214为中心的信号处理系统硬件电路。

关 键 词:ARM  CCD  双目视差原理  积分时间
文章编号:1671-1819(2007)20-5255-05
修稿时间:2007-06-21
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《科学技术与工程》浏览原始摘要信息
点击此处可从《科学技术与工程》下载免费的PDF全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号