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二水平设计离散偏差和对称化L_2偏差紧的下界
作者姓名:李洪毅  黎奇升  欧祖军
作者单位:(1.吉首大学师范学院,湖南 吉首 416000;2.吉首大学数学与统计学院,湖南 吉首 416000)
基金项目:国家自然科学基金项目(11201177);湖南省教育厅科研项目(12C0287);湖南省教育厅优秀青年项目(14B146);吉首大学校级科研项目(13JDY041);吉首大学学成返校博士科研项目(JSDXXCFXBSKYXM201113)
摘    要:基于现有的均匀性测度公式,利用Langrange乘数法和Taylor公式得到二水平设计离散偏差和对称化L2偏差紧的下界,最后通过2个例子来验证其结论.

关 键 词:均匀设计  U型设计  离散偏差  对称化L2偏差  下界
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