单片机综合应用实验设计——低频信号幅频综合检测 |
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引用本文: | 陈家栋.单片机综合应用实验设计——低频信号幅频综合检测[J].科技资讯,2023(12):192-196. |
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作者姓名: | 陈家栋 |
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作者单位: | 桂林电子科技大学电子信息学院 |
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基金项目: | 2020年广西高等教育本科教学改革工程项目(项目编号:2020JGB186); |
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摘 要: | 针对单片机综合应用实验设计,该文设计了低实验成本的低频信号幅频综合检测实验。实验涉及了单片机定时器、外部中断、AD接口技术以及电子测量技术等知识综合应用,知识考查面广。该文提出的幅频检测方案利用放大和整形电路将待测信号转换成单片机可识别的二值信号,再通过单片机利用测频法测出信号频率;利用具有电压负反馈的峰值保持电路和AD转换器采集待测信号的幅值。实验结果表明设计方案可行。通过实验可提高学生的创新实践能力,培养学生查找问题、分析问题和解决问题的能力。
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关 键 词: | 单片机 综合实验 幅频检测 峰值保持电路 |
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