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| 基于NiosⅡ的DDS技术在电磁无损检测中的应用 | |
| 作者姓名： | 麻雪莉 何云斌 董怀国 |
| 作者单位： | 哈尔滨理工大学,计算机科学与技术学院,黑龙江,哈尔滨,150080 |
| 摘 要： | 本文介绍了一种基于NiosⅡ的DDS技术在电磁无损检测分选仪器上的应用。以ALTERA公司的FPGA为硬件平台，根据DDS的基本原理，利用FPGA中可同时运行DDS软核和NiosⅡ处理器软核的优势，提出了一种多通道、高精度、便于采集的DDS设计方案。利用该方法设计的电磁无损检测仪具有精度高、体积小、成本低等优点，可广泛用于各种需要信号发生器的嵌入式产品中。 |
| 关 键 词： | Nios Ⅱ DDS FPGA 软核 |
| 文章编号： | 1672-3791（2006）10（b）-0004-02 |
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