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未掺杂SI-GaAs退火行为的正电子湮没研究
引用本文:吴凤美,滕敏康,沈德熏,陈岭. 未掺杂SI-GaAs退火行为的正电子湮没研究[J]. 南京大学学报(自然科学版), 1990, 0(1)
作者姓名:吴凤美  滕敏康  沈德熏  陈岭
作者单位:南京大学物理系,南京大学物理系,南京大学物理系,南京大学物理系
摘    要:用正电子湮没技术,研究了未掺杂的SI-GaAs退火行为。结果表明,长寿命分量τ_2的变化不仅与镓空位而且和多镓空位络合物有关。本文还讨论了电子和中子辐照的影响。

关 键 词:正电子湮没  未掺杂 SI-GaAs  辐照

A STUDY OF THE POSITRON ANNIHILATION OF THE ANNEDLING BEHAVIORS IN UNDOPED SI-GaAs
Wu Fengmei Deng Minkang Sen Dexun Cheng Ling. A STUDY OF THE POSITRON ANNIHILATION OF THE ANNEDLING BEHAVIORS IN UNDOPED SI-GaAs[J]. Journal of Nanjing University: Nat Sci Ed, 1990, 0(1)
Authors:Wu Fengmei Deng Minkang Sen Dexun Cheng Ling
Affiliation:Department of Physics
Abstract:Using the positron annihilation technique,the annealing behaviors in undoped SI-GaAs have been studied.The results show that the changes in the long lifetimc com- poncnt i_2 are related to the both Ga-vacancy and multi-Ga-vacancy complex.The in- fluence of electron and neutron irradiations has also been discussed in this paper.
Keywords:positron annihilation  undoped SI-GaAs  Irradiation
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