| 刮膜式分子蒸馏装置中的液膜状态实验 |
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| 引用本文： | 许松林,郭凯.刮膜式分子蒸馏装置中的液膜状态实验[J].天津大学学报(自然科学与工程技术版),2010,43(6). |
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| 作者姓名： | 许松林 郭凯 |
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| 作者单位： | 天津大学化工学院,天津,300072 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目 |
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| 摘 要： | 采用电学测量法对刮膜式分子蒸馏过程中蒸发壁面上液膜的连续性和液膜厚度进行测量.根据蒸发器壁面上液膜分布对导电性的影响,通过对电压信号的分析,总结出判断壁面液膜连续性的判据:各点的电压必须非零且分布均匀;波动较大.根据液膜厚度与导电溶液电阻值之间的关系,得到了壁面上液膜的平均厚度在0.01,mm数量级;使用响应曲面法对实验数据进行处理,得到并验证了液膜厚度的二阶经验关联式.实验结果表明,对于刮膜式分子蒸馏装置,提高进料速度和转子转速有利于改善壁面上液膜的连续性,而且在不同进料速度下,影响液膜厚度的主要因素不同.研究结果为设计和使用刮膜式分子蒸馏提供了理论依据.
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| 关 键 词： | 刮膜式分子蒸馏 电学测量法 液膜连续性 液膜厚度 |
Experiment on Liquid Film State in Wiped Film Molecular Distillator |
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