| 基于优势点检测的晶粒轮廓非均匀B样条逼近 |
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| 引用本文： | 赵秀阳,尹衍升,杨波.基于优势点检测的晶粒轮廓非均匀B样条逼近[J].中国科学(E辑),2007,37(7):851-856. |
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| 作者姓名： | 赵秀阳 尹衍升 杨波 |
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| 作者单位： | 1. 济南大学信息学院,济南250022
2. 中国海洋大学材料学院,青岛266003
3. 武汉理工大学材料复合新技术国家重点实验室,武汉430070 |
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| 基金项目： | 国家高技术研究发展计划(863计划);国家自然科学基金 |
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| 摘 要： | 进行复合材料三维重构的一个重要步骤是获取晶粒轮廓简洁的、光顺的数学表达. 在利用小波变换技术和Level set技术得到陶瓷复合材料晶粒闭合边缘的基础上, 根据晶粒轮廓的特点, 研究了其特征型值点的合理提取方法: 提取晶粒轮廓上高曲率的点作为候选点, 利用自适应弯曲度来确定曲线上每个点的支撑区间, 计算评价曲率, 依据评价曲率和最大采样间隔确定合理的优势点. 采用周期非均匀3次B样条曲线逼近的方法, 得到控制误差条件下最简洁的晶粒轮廓曲线. 根据所传递的候选节点矢量, 采用柔性间距选择, 获取序列轮廓的共同的节点矢量, 采用蒙皮技术获得陶瓷复合材料晶粒的3次B样条曲面模型.
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| 关 键 词： | B样条 优势点 控制点 晶粒轮廓 复合材料 |
| 收稿时间： | 2005-08-24 |
| 修稿时间： | 2005-08-242006-06-26 |
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