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多孔氢氧化钴薄膜的制备及其超级电容器性能
引用本文:张永起,夏新辉,康婧,涂江平.多孔氢氧化钴薄膜的制备及其超级电容器性能[J].科学通报,2012(27):2644-2648.
作者姓名:张永起  夏新辉  康婧  涂江平
作者单位:浙江大学材料科学与工程学系,硅材料国家重点实验室
基金项目:中国博士后科学基金(20100481401)资助
摘    要:采用水热合成法在泡沫镍基体上制备了多孔氢氧化钴薄膜.薄膜由厚度约为20nm的氢氧化钴片层组成.通过循环伏安法、恒电流充放电测试法等对多孔氢氧化钴薄膜电极在2mol/LKOH电解液中进行电化学性能的测试.结果表明,多孔氢氧化钴薄膜具有良好的赝电容性能.在室温条件下,当电流密度为2A/g时,多孔氢氧化钴薄膜比容量达到935F/g,且其大电流放电性能优良,电流密度为40A/g时其比容量达到589F/g.多孔薄膜还表现出良好的循环特性,在电流密度2A/g循环1500周期后,容量保持率为82.6%.

关 键 词:超级电容器  氢氧化钴薄膜  电化学性能  水热合成
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