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分类号
杂志ISSN号
半导体器件失效分析的重要性及关键问题研究
作者姓名:
杨绸绸
作者单位:
燕山大学信息科学与工程学院,河北秦皇岛066004
摘 要:
本文对半导体器件失效分析的重要性及关键问题进行了阐述,认为失效分析对提高产品的可靠性具有非常重要的意义。失效分析的关键同意包括失效信息及失效数据的收集、失效预警及启动分析机制、信息反馈机制,专业技术及人员,善于总结,实现点到面的技术提升等方面。
关 键 词:
半导体器件
失效分析
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