| X射线荧光光谱法测定海底钴结壳的方法研究 |
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| 作者姓名： | 夏晨光 武朝辉刘牧 |
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| 作者单位： | 核工业北京地质研究院分析测试中心,北京,100008;核工业北京地质研究院分析测试中心,北京,100008;核工业北京地质研究院分析测试中心,北京,100008 |
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| 摘 要： | 采用粉末压片制样,X-射线荧光光谱法直接测定钴结壳中Fe、Mn、Co、Ni、Si、Al、Ca、K、Na、Ti、P、Mg、Cu、Pb、Mo、Sr、V、Zn、Zr、Y、Ba等元素。重点讨论用熔融法定值部分样品,然后用加以定值的钴结壳标准及样品、国家岩石、土壤、水系沉积物系列标准用粉末压片制样,做工作曲线,一次测量钴结壳中二十余种元素,并用定值样品做精密度与准确度试验,各元素统计结果为RSD％（n=12）除V的RSD〈4％外,其余元素的RSD均小于2％,测定结果与标准值和ICP-MS测量值相符。
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| 关 键 词： | 钴结壳 X射线荧光光谱仪 粉末压片法 熔融法 |
| 文章编号： | 1671-1815（2006）18-2967-05 |
| 收稿时间： | 2006-06-07 |
| 修稿时间： | 2006-06-07 |
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