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高择优取向(100)PZT铁电薄膜的磁控溅射生长
引用本文:王震东,赖珍荃,张景基.高择优取向(100)PZT铁电薄膜的磁控溅射生长[J].江西科学,2005,23(5):514-515,547.
作者姓名:王震东  赖珍荃  张景基
作者单位:南昌大学理学院,江西,南昌,330047;南昌大学材料科学与工程系,江西,南昌,330047;南昌大学理学院,江西,南昌,330047;南昌大学材料科学与工程系,江西,南昌,330047
基金项目:南昌大学校基金项目(Z-2918).
摘    要:以射频(RF)磁控溅射法分别在Si(111)和Pt(111)/Ti/SiO2/Si基底上溅射沉积LaNiO3(LNO)薄膜电极,沉积过程中基底温度为370℃,然后对沉积的LNO薄膜样品进行快速热退火处理(500℃/10min)。X射线衍射(XRD)分析表明:Si(111)基底上LNO电极表现出高度的(100)取向,而Pt(111)/Ti/SiO2/Si基底上LNO电极则表现较强的(111)择优取向。然后在(100)LNO薄膜电极上生长PZT铁电薄膜,通过合适溅射工艺参数的选择,成功地制备了高度(100)取向的PZT铁电薄膜。

关 键 词:LaNiO3电极  PZT铁电薄膜  射频溅射  择优取向
文章编号:1001-3679(2005105-0514-03
收稿时间:2005-04-17
修稿时间:2005-04-172005-06-29

Preparation of Highly Oriented (100)PZT Ferroelectric Thin Films by RF Magnetron Sputtering
WANG Zhen-dong,LAI Zhen-quan,ZHANG Jing-ji.Preparation of Highly Oriented (100)PZT Ferroelectric Thin Films by RF Magnetron Sputtering[J].Jiangxi Science,2005,23(5):514-515,547.
Authors:WANG Zhen-dong  LAI Zhen-quan  ZHANG Jing-ji
Abstract:
Keywords:LaNiO3 electrode  PZT ferroelectric thin films  RF sputtering  Preferred orientation
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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