| RuO2-ZrO2二元氧化物电活性的EIS分析 |
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| 作者姓名： | 路恒达 王欣 朱君秋 林玮 唐电 |
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| 作者单位： | 福州大学材料科学与工程学院,福建 福州350116;福州大学材料科学与工程学院,福建 福州350116;福州大学材料研究所,福建 福州350116;福州大学材料研究所,福建 福州350116;福州大学材料科学与工程学院,福建 福州350116;福州大学材料研究所,福建 福州350116 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(11104031;11374053) |
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| 摘 要： | 采用热分解法在Ti基体表面制备RuO2-ZrO2氧化物涂层.运用X-射线衍射(XRD)技术和交流阻抗(EIS)技术研究Ti/RuO2-ZrO2涂层电极的结构及其与电活性的关系.研究表明,所测试Ru-Zr二元氧化物涂层电极的等效电路可以用LRΩ(R1Q1)(Q2W)加以描述.这一电路与Ti/RuO2-TiO2涂层电极的电路具有可比性.详细分析随名义ZrO2含量的增加,R1、Q1、Q2和W阻抗值变化的规律性.并进而讨论了随ZrO2含量的增加,电极电阻元件的阻抗值变化和电容元件的电容值变化与组织形貌和结构变化之间的关系.
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| 关 键 词： | 电活性 RuO2 ZrO2 EIS 结构 电容 电阻 |
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