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立方氮化硼晶体的电学性质与电流控制微分负阻
引用本文:窦庆萍,马海涛.立方氮化硼晶体的电学性质与电流控制微分负阻[J].中国科学(E辑),2008,38(11):1952-1957.
作者姓名:窦庆萍  马海涛
作者单位:① 暨南大学珠海学院计算机系, 珠海 519070; ② 北京航天二院二十五所, 北京 100080
基金项目:暨南大学珠海学院优秀人才科研基金项目(批准号: 510062)资助
摘    要:研究了非故意掺杂的n型cBN晶体的电学性质.所研究的cBN晶体是由六角氮化硼在高温高压下以镁粉为催化剂转化而来.在室温下,测量了cBN晶体的伏安特性,为非线性伏安特性.当电场强度在10^5~1.5×10^5V/cm范围内时,cBN晶体发生电击穿.同时,cBN晶体发出波长为380~400nm的蓝紫光.继续测量cBN晶体伏安特性,发现cBN晶体出现电流控制型微分负阻.这些实验现象是可以重复的.

关 键 词:非故意掺杂的n型cBN晶体  非线性伏安特性  电流控制微分负阻
收稿时间:2007-01-06
修稿时间:2007-06-25
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