立方氮化硼晶体的电学性质与电流控制微分负阻 |
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引用本文: | 窦庆萍,马海涛.立方氮化硼晶体的电学性质与电流控制微分负阻[J].中国科学(E辑),2008,38(11):1952-1957. |
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作者姓名: | 窦庆萍 马海涛 |
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作者单位: | ① 暨南大学珠海学院计算机系, 珠海 519070;
② 北京航天二院二十五所, 北京 100080 |
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基金项目: | 暨南大学珠海学院优秀人才科研基金项目(批准号: 510062)资助 |
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摘 要: | 研究了非故意掺杂的n型cBN晶体的电学性质.所研究的cBN晶体是由六角氮化硼在高温高压下以镁粉为催化剂转化而来.在室温下,测量了cBN晶体的伏安特性,为非线性伏安特性.当电场强度在10^5~1.5×10^5V/cm范围内时,cBN晶体发生电击穿.同时,cBN晶体发出波长为380~400nm的蓝紫光.继续测量cBN晶体伏安特性,发现cBN晶体出现电流控制型微分负阻.这些实验现象是可以重复的.
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关 键 词: | 非故意掺杂的n型cBN晶体 非线性伏安特性 电流控制微分负阻 |
收稿时间: | 2007-01-06 |
修稿时间: | 2007-06-25 |
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