首页
|
本学科首页
官方微博
|
高级检索
全部专业
非线性科学
系统科学
学报及综合类
自然科学丛书、文集、连续性出版物
自然科学教育与普及
自然科学理论与方法论
自然科学现状及发展
自然科学研究方法
按
中文标题
英文标题
中文关键词
英文关键词
中文摘要
英文摘要
作者中文名
作者英文名
单位中文名
单位英文名
基金中文名
基金英文名
杂志中文名
杂志英文名
栏目英文名
栏目英文名
DOI
责任编辑
分类号
杂志ISSN号
检索
纳米时代的源漏Pn结技术
摘 要:
第4届结技术国际研讨会(The 4th International Workshop on Junction Technology:IWJT-2004)于2004年3月15~16日在上海举行。本届会议(IWJT-2004),由中国电子学会和日本应用物理学会硅技术分会主办,在国家自然科学基金委、上海市科学技术委员会以及复旦大学微电子研究院等的支持下,由复旦大学负责筹办,首次在中国上海召开。随着CMOS器件进入纳米时代,
关 键 词:
纳米时代
International
Technology
Pn结
Workshop
国家自然科学基金
2004年3月
中国电子学会
CMOS器件
复旦大学
国际研讨会
技术委员会
物理学会
第4届
硅技术
研究院
微电子
上海市
本文献已被
维普
等数据库收录!
设为首页
|
免责声明
|
关于勤云
|
加入收藏
Copyright
©
北京勤云科技发展有限公司
京ICP备09084417号