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高频下介电温度谱测量技术
引用本文:应竹青,李静一.高频下介电温度谱测量技术[J].上海交通大学学报,1984(2).
作者姓名:应竹青  李静一
作者单位:上海交通大学应用化学系,上海交通大学应用化学系 79届研究生
摘    要:本文提出了一种改进的测微电极,可用来准确地测量高频波段各种温度下介电材料的介电系数、介质损耗角正切和试片的平均厚度。电极系统采用四电极对称结构,可方便地在不同温度下使用排液法,温度变化不影响测量结果,本文还推荐了几种合适的标准液体和其介电系数温度谱的标定方法,从而为液体排代法推广到高频介电温度谱的测量提供了条件。本方法只需测量几次电极间距离的变化和两次谐振电压的比例,就可方便地获得精确的测量结果。其介电系数、介质损耗角正切和试片的平均厚度的测量精度分别可达±0.5%、±7.0%和几微米。

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