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外延层组份及界面状况的X射线双晶衍射测定

引用本文：	朱南昌,李润身.外延层组份及界面状况的X射线双晶衍射测定[J].科技通讯(上海),1993(4):1-5.

作者姓名：	朱南昌李润身

摘要：
关键词：	外延层组分界面 X射线衍射
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