| 半导体器件失效分析研究 |
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| 引用本文： | 王胜林,李斌,吴鹏. 半导体器件失效分析研究[J]. 陕西师范大学学报(自然科学版), 2006, 0(Z2) |
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| 作者姓名： | 王胜林 李斌 吴鹏 |
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| 作者单位： | 陕西警官职业学院计算机系 陕西西安710043(王胜林),空军工程大学理学院 陕西西安710077(李斌),西北大学物理学系 陕西西安710069(吴鹏) |
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| 摘 要： | 统计分析了引起半导体器件失效的一些主要原因,阐明了失效分析在提高半导体器件和电子产品质量与可靠性方面所发挥的重要作用.
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| 关 键 词： | 半导体器件 失效分析 失效原因 |
Analyses of semiconductor devices ineffectiveness |
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| WANG Sheng-lin,LI Bin,Wu Peng. Analyses of semiconductor devices ineffectiveness[J]. Journal of Shaanxi Normal University: Nat Sci Ed, 2006, 0(Z2) |
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| Authors: | WANG Sheng-lin LI Bin Wu Peng |
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| Affiliation: | WANG Sheng-lin~1,LI Bin~2,Wu Peng~3 |
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| Abstract: | Some principal causes which lead to the semiconductor device ineffectiveness are analyzed statis tically,the importance of ineffectiveness analyses in improving the quality and reliability of semiconductor device and electronic products are clarified. |
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| Keywords: | Semiconductor device ineffectiveness analyses cause of ineffectiveness |
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