| 微纳与智能测量的新进展 |
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| 引用本文： | 张国雄.微纳与智能测量的新进展[J].国际学术动态,2006(4):28-31. |
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| 作者姓名： | 张国雄 |
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| 作者单位： | 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室,天津300072 |
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| 摘 要： | 第7届国际测量技术与智能仪器研讨会（7th International Symposiumon Measurerment Technology and Intelligent Instruments,ISMTⅡ2005）于2005年9月5-9日在英国Huddersfield召开。此次议由3个部分组成。9月5日举行“测量与仪器历史与未来前景报告会（Seminar on History and Future Prospects in the Field of Measurement and Instrumentation），9月6-8日举行第7届国际测量技术与智能仪器研讨会，9月9日举行第1次中英双边精密测量与仪器学术研讨会（SINO—UK Workshop on Measurement and Instruments）.
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| 关 键 词： | 智能测量 智能仪器 测量技术 学术研讨会 |
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