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X射线荧光光谱法测定底质中的几种重金属
作者姓名:林玉斌 桑杰
作者单位:[1]济南市环境保护科学研究所 [2]济南市环境监理总站
摘    要:采用粉末压制的样片进行X射线荧光光谱分析,测定底质中的重金属As,Cr,Cu,Pb,Zn,其相对标准误差分别为0.009%,0.008%,0.012%,0.04%和0.0014%,方法的准确度与精密度均能满足底质样品分析的要求。

关 键 词:X射线 荧光光谱法 底质 重金属 测定 水质监测
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