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| 雷达下视环扫成像分辨率研究 | |
| 作者姓名： | 李静 黄培康 潘旭东 王小虎 |
| 作者单位： | 1. 中国航天科工集团公司第四研究院, 北京, 100038;2. 中国航天科工集团公司科技委, 北京, 100854 |
| 摘 要： | 雷达下视环扫成像作为一种特殊的成像方式,可在较大地域范围对感兴趣的目标快速成像,继而对飞行器定位并精确制导.对下视环扫DBS和环扫SAR两种成像模式进行了分辨率研究,纠正了一些文献在DBS分辨率计算时存在的混淆;对两种环扫模式的理论方位分辨率进行了比较;建立了飞行器末段环扫成像参数的优化模型,给出优化方法.分析了不同环扫模式的适用性,并指出相比全程环扫SAR模式,高程环扫SAR+低程环扫DBS的成像模式可为定位增加信息量,但改善量不大. |
| 关 键 词： | 环扫DBS 环扫SAR 方位分辨率 约束最优化 |
| 收稿时间： | 2008-03-03 |
| 修稿时间： | 2008-07-17 |
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